PCT高压加速老化黄瓜视频下载地址与HAST黄瓜视频下载地址主要作用是用来测试半导体封装的湿气能力，待测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体.广泛应用于多层线路板，IC封装，LED屏幕，LED，半导体，磁性材料，钕铁硼，稀土等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性.常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境因素(如:温度)与工作因素(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

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